Назначение: для использования в качестве эталонной меры при определении погрешности установки шкалы длин волн фотометров фотоэлектрических типа КФК-3 (номера по Госреестру средств измерений 11598-02 и 32672-06), КФК-ЗЦ (номер по Госреестру средств измерений 1159988) производства ОАО «Загорский оптико-механический завод (ЗОМЗ)», г.Сергиев Посад, при проведении их поверки. Может быть использован при проведении поверки или калибровки спектрофотометров и фотометров других типов, с рабочим спектральным диапазоном 340…900 нм и погрешностью установки длин волн ±1,5 нм и более, оптическая схема которых позволяет установить светофильтры из комплекта в оптический тракт без срезания светового потока. Для применения органами государственного метрологического контроля и надзора и ремонтными организациями.
Принцип действия комплекта основан на явлении многолучевой интерференции света в тонких диэлектрических плёнках, в результате которой спектр пропускания светофильтра имеет явно выраженный максимум пропускания на определенной длине волны. Корпус светофильтра изготавливается из дюралюминия или пластмассы и окрашен в черный цвет. На нерабочей поверхности корпуса награвирован номер комплекта . Хвостовая часть корпуса служит рукояткой .
Интерференционные светофильтры имеют многослойную структуру . Каждый из них представляет собой плоскопараллельную пластину диаметром 37, толщиной от 3 до 6 мм. При использовании светофильтры из комплекта устанавливают в кюветное отделение оптического тракта поверяемого фотометра . Дальнейшие действия определяются методикой поверки фотометра . Светофильтры помещаются в футляр, устройство которого предохраняет их от резких ударов и загрязнения.
Комплект интерференционных светофильтров «Ф» подлежит первичной и периодической поверке в соответствии с методикой поверки, входящей в Руководство по эксплуатации комплекта (раздел 9), утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест—Москва» в мае 2009 г.
Межповерочный интервал — 1 год .
Средства поверки: Спектрофотометр Lambda 950, рабочий диапазон длин волн (190 — 2500) нм , предел допускаемой абсолютной погрешности измерений по шкале длин волн ±0,08 нм .
