Назначение: для измерений магнитной индукции постоянного магнитного поля; средневыпрямленного значения магнитной индукции переменного магнитного поля; средневыпрямленного значения магнитной индукции переменного магнитного поля промышленной частоты; амплитудного значения магнитной индукции переменного магнитного поля; амплитудного значения магнитной индукции импульсного магнитного поля и, кроме того, обеспечивают наблюдение формы переменного или импульсного магнитного поля при подключении внешнего прибора (например, осциллографа) к аналоговому выходу электронного блока миллитесламетра.
Области применения — машиностроение, металлургия, транспорт и другие отрасли промышленности, материаловедение, научные исследования в различных областях науки и техники.
