Назначение: для измерения толщины покрытий, а также для измерения массовой доли химических элементов в твердых и жидких образцах в соответствии с аттестованными методиками измерений.
Принцип действия спектрометров-толщиномеров основан на энерогодисперсионном рентгенофлуоресцентном методе анализа. Химические элементы, присутствующие в анализируемом образце, излучают характеристические спектральные линии под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специальное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.
Поверка осуществляется по документу: МП 022.Д4-17 «ГСИ. Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» «10» января 2017 г.
приведены в эксплуатационном документе.
Наименование характеристики | Значение
характеристики |
Габаритные размеры, (длинахширинахвысота) мм, не более
— спектрометров-толщиномеров — внутренней камеры |
660x835x720
580x560x145 |
Максимальная высота образца, мм | 140 |
Масса, кг, не более | 140 |
Максимальный вес образца, кг | 5 |
Потребляемая мощность, кВт | 0,12 |
Электропитание осуществляется от сети переменного тока с напряжением, В частотой, Гц | 220±10 от 50 до 60 |
Условия эксплуатации: температура окружающей среды, °С относительная влажность воздуха, %, не более атмосферное давление, кПа | от +10 до +40 95
от 94 до 106 |